2010國際自動識別技術展會暨2010物聯網與產品質量追溯論壇舉行

用智慧駕馭未來

紀正昆出席開幕式并參觀展會

    本報訊  （記者徐 風）11月10日，2010國際自動識別技術展會暨2010物聯網與產品質量追溯論壇在北京舉行。國家標準委主任紀正昆出席開幕式并參觀了展會。

    據介紹，本屆展會云集了百家國內外著名企業，以“用智慧駕馭未來”為主題，匯集條碼、射頻、生物識別、圖像識別等各種自動識別技術產品及解決方案，展示了自動識別技術的自主創新成果，將推動自動識別技術在我國各領域更廣泛、更深入的應用。為了滿足行業監管需求，提高企業管理和服務水平，全面推廣物品編碼與自動識別技術在物聯網、產品質量提升工作中的應用，本屆展會特別設立了“質量提升年”主題展區和“物聯網應用”專題展區。

    據了解，條碼、射頻等自動識別技術在以往的產品質量追溯中發揮了重要的作用，而自動識別技術是物聯網的重要技術支撐。2010物聯網與產品質量追溯論壇以“物品編碼助力產品質量追溯  質量提升服務大質檢”為主題，來自全國食品、零售、物流及物聯網相關領域的企業、系統集成商及中國物品編碼中心分支機構代表，系統地介紹了以商品條碼為基礎的統一標識系統在我國產品質量追溯中的重要作用，并圍繞物聯網的發展、產品質量追溯，以及相關技術標準和行業應用等主題進行了深入的探討。

    本次展會和論壇由中國物品編碼中心、中國自動識別技術協會主辦。國家質檢總局、國家標準委、工信部、商務部、國家發改委、科技部等部門派員出席開幕式。中國物流采購聯合會、中國食品工業協會、中國連鎖經營協會有關領導出席了開幕式。